X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料及其原料中10种成分

摘 要：采用熔融制样，建立了镁质耐火材料( 制品镁砖等) 及其原料( 水镁石，原料镁砂等) 中MgO、Al 2O 3、SiO 2、CaO、P 2O 5、TiO 2、TFe 2O 3、Na 2O、K 2O、MnO 的 X 射线荧光光谱分析方法。与以往方法相比， 增加了 Na 2O、K 2O 的含量测试， 为最终对于 MgO 的准确测试提供了依据。对高镁样品( MgO 含量大于90%) 的熔剂体系、样品与熔剂稀释比等方面进行了考察， 同时对水 镁 石、菱 镁 矿 等 高 烧失量样品的烧失量校正进行了探讨。采用国家标准样品GBW07105和高纯镁砂配制的系列校准样品来建立校准曲线，用经验系数法回归校正共存元素间的吸收增强效应。方法的检出限在0.031%～0.45%之间。对样品进行了精密度试验，各成分的相对标准偏差( RSD， n=10) 在0.31%～3.4%之间。对人工合成样品及标准样品进行测试， 结果与湿法测定结果。